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SKU: 9691-STD-0-D-0-CN-B
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Product Details

本文件是IPC电化学迁移(ECM)技术组的成果。本文件的目的是为如何更好地使用IPC-TM-650测试方法2.6.25《耐导电阳极丝(CAF)测试》以及其他内部电化学迁移(ECM)测试提供指南,以评估机械应力、层压板材料断裂、离子污染、压合层压板前湿气含量以及其它材料加工特性在层压材料中形成的导电路径,例如导电阳极丝(CAF),一种特殊类型的ECM失效模式,对测试结果的影响。该内部ECM测试方法提供了一个已经证实的标准,用于确定由于通孔偏移从而显著降低内部导体间绝缘电阻情况的风险,该现象发生在层压板内部,而不是在印制板的表面上

Published Date
ISBN
978-1-61193-331-4
Pages
44
DoD Adopted
No
ANSI Approved
No