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This document provides tests that record changes in surface insulation resistance (SIR) on a representative sample of a printed circuit assembly. It quantifies any deleterious effects that might arise from solder flux or other process residues left on external surfaces after soldering, which can cause unwanted electrochemical reactions that grossly affect reliability. It uses test vehicles that...
While there are a variety of industry test vehicles for the examination of materials compatibility, most available test boards leave something to be desired as there is often a dramatic difference in materials between such test boards and produced assemblies. A test vehicle was needed which could be used for both ion chromatography and SIR testing that would be more representative of mainstream...
Surface mount pad cratering typically initiates prior to detection by existing electrical monitoring test methods. There are limited instrumentation techniques that are currently available that can identify non-electrical damage and its location to a high degree of accuracy. This guideline document establishes an acoustic emission (AE) method to evaluate the performance and reliability of surface...
Implementing flip chip technology in a direct chip attach (DCA) assembly presents some unique challenges for design, assembly, inspection and repair personnel. IPC-7094 delivers useful and practical information to anyone who is currently using or contemplating developing products that employ the very complex and high density methods needed for the flip chip technology. The concepts have become...
This standard describes the design and assembly challenges for implementing Bottom Termination surface mount Components (BTCs) whose external connections consist of metallized terminals that are an integral part of the component body. The BTCs in this document include all types and forms of bottom-only termination components intended for surface mounting. This includes such industry descriptive...
本文件是电子互连行业不可或缺的术语标准。该文件图文并茂,可帮助用户及其客户克服语言上的沟通障碍。M版本包含超过220多条新术语或修订术语,包括敷形涂覆、灌封和封装工艺、模板设计、统计工艺控制和挠性印制板技术。也包括通用行业缩写词。
Description in English 本文件是电子互连行业不可或缺的一份术语标准。该文件图文并茂,可帮助用户及其客户克服语言上的沟通障碍。H版本包含200多条新术语或修订术语,新术语涉及球栅阵列和芯片尺寸封装、导通孔保护、导体图形、组装工艺、基材和选择性电镀工艺等。还包括通用工业缩写词和根据技术分类排序的术语索引,以便于查找。全文276页,于 2008年7月公布。
本标准描述了在印制板中以成形或放置方式实现的有源和无源元器件在设计和组装方面的挑战。包括内部电子元器件的完整结构可用于表面贴装和/或通孔元器件连接。在组装过程中,多层结构变成准备为进一步加工的完整产品,它可由有机、无机(陶瓷)或两类兼有的材料制成。
El J-STD-075 continúa donde es J-STD-020 termina proporcionando los métodos de pruebas para clasificar las limitaciones de los procesos térmicos en los peores casos para los componentes electrónicos. Las clasificación hace referencia a los perfiles de soldadura para procesos industriales comunes de ola y de reflujo incluyendo procesos libres de plomo. La clasificación representa los máximos...
本标准建立了机械跌落和冲击测试指南,用于评估印刷电路板组件从系统到组件级别的焊点可靠性。 本文件介绍了定义机械冲击使用条件的方法,定义系统级别的方法;系统级印刷电路板以及与此类使用条件相关的元器件测试板级别的测试,以及使用实验测量机械冲击测试的指导。 正文42页。 2009年3月英文版发布。2019年3月翻译。
简要介绍 (英文) J-STD-075主要涵盖了J-STD-020未涉及的内容,所提供的测试方法可针对电子元器件在最坏情况下对焊接组装工艺的限制进行分级,分级时采用常见的波峰焊和再流焊工艺曲线,包括无铅工艺。分级代表最高的工艺敏感等级,并没有为组装厂建立返工条件或推荐工艺。它概述了非半导体元器件工艺敏感等级(PSL)的分级和标识程序,潮湿敏感等级(MSL)符合半导体行业的分级(J-STD-020《非气密固态表面贴装器件潮湿/再流焊敏感度分级》和J-STD-033《潮湿/再流焊敏感表面贴装器件的操作、包装、运输及使用》)。J-STD-075取代IPC-9503。由ECA、IPC和JEDEC联合开发。全文共12页,于2008年8月发布。2010年9月出版其中文版。
简要介绍 (英文) 本标准是IPC发布的首份电子产品整机的可接受性标准。内容涉及组装过程中整机的可接受性要求。本标准的制定用来指导电气和电子设备整机制造商和终端用户了解满足要求的最佳做法,确保终端产品在预期设计寿命内组装的可靠性和功能。2013年9月发布;共30页。2014年7月翻译
本文件旨在描述元器件板级互连的断裂强度特性,它详细说明了确定板级器件互连对非周期板组装和测试操作过程中可能发生的弯曲载荷的抗断裂力的常用方法。本文件适用于采用常规再流焊接技术连接到印制板上的表面贴装元器件,并补充了有关运输、装卸或现场操作过程中的机械冲击或撞击的现有标准。全文共14页,2004年6月正式发布英文版,2011年6月发布中文版 预览本标准
This is the German Language version of the J-STD-075. J-STD-075 picks up where J-STD-020 left off by providing test methods to classify worst-case thermal process limitations for electronic components. Classification is referenced to common industry wave and reflow solder profiles including lead-free processing. The classifications represent maximum process sensitivity levels and do not establish...
本标准描述了采用底部端子表面贴装元器件(BTC)在设计和组装方面的挑战,BTC元器件外部连接由构成元器件整体一部分的金属端子组成。本文件中BTC包括了仅有底部端子并要实施表面贴装的所有类型元器件。包括QFN、 DFN、 SON、 LGA、MLP 和MLF等业界描述性术语。这里所含信息的焦点放在BTCs元器件的关键设计、组装、检验、维修以及和BTC相关的可靠性问题上。 这份文件的目标读者是与电子设计、组装、检验和维修等过程有关的经理、设计和工艺工程师、操作员和技术员。本文件的目的是给正考虑采用锡/铅、无铅、粘合剂或其它形式互连工艺来组装BTC类元器件的那些公司提供实际而有用的资讯。虽然本文件不是包含一切的秘方,但它识别了影响进行稳健和可靠组装的许多特性,可给正面临组装制程问题的元器件供应商提供指导性的信息。全文共68页。2011年3月发布。2014年5月翻译。
简要介绍 (英文) 对SMT组件定期进行机械弯曲和冲击测试,以确保它们能够承受预期的生产、搬运和最终使用条件。在弯曲和冲击测试过程中,加载于SMT组件的应变和应变率在焊点附近会导致各种失效模式。本文件提供了测试方法去评估印制板组装(PBA)材料的敏感性和关于表面贴装技术(SMT)的连接焊盘下方绝缘材料接合失效的设计。这些测试方法,包括引脚拉拔、焊球拉拔、焊球剪切测试,可以对不同的印制板的材料和设计参数进行排序和比较。全文共17页。2010年12月发布。2013年5月翻译。
MEGHATÁROZÁS> angolul MEGHATÁROZÁS angolul A tömegforrasztás során alapvető fontosságú, hogy mindegyik forraszkötés elérje a minimális forrasztási hőmérsékletet ezzel biztosítható, hogy a forraszanyag és az összeforrasztandó fémfelületek között diffúziós kötés jöjjön létre. A diffúziós kötésnek mindkét forrasztandó fémfelület és a forraszanyag között létre kell jönnie. Ehhez a minimális...
本規格は、許容可能な電子組立品(SnPbおよびPbフリー)を製造するうえで必要となる熱プロファイルの作成において、有用かつ実用的な情報を提供するものである。今回の改版では、旧版でのリフロープロファイルから、ベーパーフェーズ、レーザー、セレクティブおよびウェーブソルダリングのプロファイルに至るまで対象範囲が拡大されている。また、プロファイル作成時に発生し得る一般的な不具合事象に対処するためのトラブルシューティングガイドをフルカラーで掲載している。
本用户指南的目的是为如何更好地使用IPC-TM-650测试方法2.6.25耐导电阳极丝(CAF)测试提供指导,以评估机械应力、层压板材料断裂、离子污染、压合层压板前湿气含量以及其它材料加工特性对耐导电阳极丝(CAF)测试方法结果的影响。 本CAF测试方法提供了已经证实的标准,用于评估印制板内部而非其表面的温度、湿度和偏压(THB)的失效风险,通常细丝会沿着树脂和层压板增强材料之间的界面形成。共23页。2007年8月。2013年6月翻译.
Coming Soon
IPC-7095E: Design and Assembly Process Implementation for Ball Grid Arrays (BGAs)
IPC-7530B: Guidelines for Temperature Profiling for Mass Soldering Processes (Reflow & Wave)
IPC-2294: Design Standard for Printed Electronics on Rigid Substrates
IPC-6904: Qualification and Performance Specifications for Printed Electronics on Rigid Substrates
IPC-4105: Specification for Metal Base Copper Clad laminates for Rigid Printed Boards